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产品名称:手机无线充电芯片测试治具
产品应用:手机无线充电芯片测试
品牌:达富
型号:DF-QFN32WX-CS
结构:助力
类型:手动
使用寿命:5W次以上
测试间距:0.4mm
测试频率:2.4GHz
设计要求:根据测试对象进行结构设计,可翻盖,弹跳,旋扭
其它:根据测试芯片Body大小,厚度进行设计
品牌:达富
型号:DF-QFN32WX-CS
结构:助力
类型:手动
使用寿命:5W次以上
测试间距:0.4mm
测试频率:2.4GHz
设计要求:根据测试对象进行结构设计,可翻盖,弹跳,旋扭
其它:根据测试芯片Body大小,厚度进行设计
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